Markt & Technik

Mit Rück- und Ausblick von Dr. Truchard

»NI Automated Test Outlook 2017« erschienen

Der »NI Automated Test Outlook 2017« von National Instruments gibt Aufschluss über die wichtigsten Prüfansätze für das Zeitalter der Smart Devices. Besonderes Schmankerl: Ein Vorwort und Gastkommentare vom NI-Mitbegründer Dr. James Truchard.

Größte Offshore-Anlage

8 MW-Prototyp von Siemens nimmt Betrieb auf

Nach der Zertifizierung aller Sicherheitsmerkmale durch DNV GL hat der bisher stärkste…

ETH Zürich

Temperatursensor für Prothesen und Roboter

Temperaturempfindungen an einer Prothese? Das könnte bald real werden: Forscher der ETH…

Heißer Reifen beim FIA GT WorldCup

Rutronik und Yageo in Macau

Schnell unterwegs ist Rutronik nicht nur bei der Lieferung von elektronischen Komponenten.…

Hardware für Industrie 4.0 Einsteiger

In 6 Minuten wird die Maschine zum IoT-Device

Die Start Smart Connectware von Cybus erlaubt es Fabriken innerhalb von 6 Minuten eigene,…

BEMA Biogas GmbH

Nachwärmeversorgung wird schwarmnetzfinanziert

Für die Finanzierung der Erweiterung eines Nahwärmenetzes für das Bioenergiedorf Müden…

Kommunikationsmesstechnik

Keysight kauft Ixia

Für rund 1,6 Milliarden US-Dollar übernimmt Keysight den…

Spielerisch Lernen

Daddeln in der Schule?

Knapp zwei von drei Bundesbürgern (64 Prozent) finden es laut Bitkom sinnvoll, den…

Großes Einsparpotenzial im Rechenzentrum

Passive Netzwerkstruktur bis 200 G ist möglich!

Leoni kann 200 G über eine passive Kupferverkabelung übertragen. Damit demonstriert das…

Displaytrends 2017: 5 Fragen an Kyocera

»Individuell bedruckte Frontscheiben sind angesagt«

Laut Kyocera-Manager Eberhard Schill gibt es »kaum ein neues Gerätedesign mehr, in dem…