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Semikron Innovation Award 2016

Materialfehlerdiagnose für SiC-Wafer ausgezeichnet

Der diesjährige Semikron Innovation Award geht an Forscher des Fraunhofer IISB, der FAU Erlangen-Nürnberg, Infineon und Intego für die Entwicklung eines Messgeräts zur Materialfehlerdetektion auf SiC-Wafern. Was zeichnet das Verfahren aus?

Softwareschutztechnik CodeMeter von Wibu-Systems

Mikrocontroller und Logikbausteine schützen

»CodeMeter µEmbedded« heißt die auf der embedded world präsentierte neue Variante der…

Sicherheit in IoT-Anwendungen

Firmware-Schutz für Mikrocontroller

IoT-Anwendungen erfordern ein Höchstmaß an Daten- und funktionaler Sicherheit. Firmware…

Daten- und Know-how-Sicherheit

Sicherheit für Mikrocontroller

Wir sind umgeben von Mikrocontrollern: von der Digitaluhr über das Smartphone zum…

Entwicklungssystem

Testautomatisierung mit dem Debugger

Der Hardware Debugger von PLS dient dazu, genau zu analysieren, was im Inneren von…

Interview mit Infineons CEO Dr. Reinhard Ploss

»Let's do it«

Eine gelungene Integration von International Rectifier, gute Zahlen und Stammgast bei der…

Mikrowellenöfen, Plasma-Lampen und Motorzündungen

Mit HF-Leistungsverstärkern in die Consumer-Märkte

Hersteller von HF-Komponenten visieren einen neu entstehenden Markt an: RF-Energy.…

Leserwahl

Wählen Sie die Produkte des Jahres 2016

Die Elektronik-Redaktion sucht zum 18. Mal die »Produkte des Jahres« und hat in dieser…

Thyristoren für HGÜ-Anwendungen

Stand der Technik

Hochleistungs-Thyristoren sollen in HGÜ-Übertragungssystemen von bis zu 11 GW und…

Digital-Power-Entwicklungs-Kit mit…

Digitale Stromversorgung leicht gemacht

Die Stromversorgung wird digital. Mit der Einführung neuer Mikrocontroller gewinnen…