PXI/LXI-Schaltmodule für HiL-basierte Fehlersimulation
5. Juni 2009, 14:05 Uhr |
Björn Graunitz, Elektronik automotive
Auf der Automotive Testing Expo 2009 stellt Pickering Interfaces gemeinsam mit B2i Automotive aus Frankreich PXI/LXI-basierte Lösungen für die Fehlersimulation in HiL-Applikationen vor.
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Neben Präzisionswiderstandsdekaden und PXI-Modulen zur Fehlersimulation präsentiert Pickering Interfaces zusammen mit B2i Automotive auch eine typische Anwendung zur Fehlersimulation in einer Hardware-In-The-Loop-Testapplikation.
Die Demonstration zeigt B2i Automotives HiL-Testlösung RT-LAB, ein Werkzeug innerhalb der Motorsteuerung-Testumgebung zur verbesserten HIL-Validierung. Kernbestandteil des Systems bildet eine deterministische Fault-Insertion-Einheit von Pickering Interfaces kombiniert mit anderen, standardisierten Werkzeugen.
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