Startseite > Automotive > Software + Tools > Closed-Loop-Tests eingebetteter Systeme mit der MicroLabBox II

Tests direkt am Entwickler-Arbeitsplatz

Closed-Loop-Tests eingebetteter Systeme mit der MicroLabBox II

10. März 2025, 11:35 Uhr | Irina Hübner

Mit dem kompakten HIL-System können Hardware-Software-Integrationstests nun bereits in frühen Phasen am Arbeitsplatz des Entwicklers erfolgen.

dSpace stellt zur embedded world neue Anwendungsmöglichkeiten für die MicroLabBox II vor und zeigt, wie das kompakte Entwicklungs- und Testsystem für Controller-Hardware-in-the-Loop (C-HIL)-Tests eingesetzt werden kann.

▶ Diesen Artikel anhören

Für das entwicklungsbegleitende Testen eingebetteter Systeme werden häufig aufwendige Closed-Loop-Testlösungen eingesetzt. Deshalb wurden HIL-Tests bislang in der Regel erst in den späten Phasen des Entwicklungsprozesses genutzt. Mit der MicroLabBox II bietet dSpace ein kostengünstiges und gleichzeitig sehr flexibles Einstiegssystem für Closed-Loop-Tests auf Controller-Ebene (C-HIL).

Das System bietet neben einer Vielzahl an I/O-Schnittstellen auch die Unterstützung automotiver Kommunikationsprotokolle, eine hervorragende Echtzeitperformance sowie die Möglichkeit, hochpräzise Simulationsmodelle mit Hilfe des großen kundenprogrammierbaren FPGAs zu integrieren.

Hardware-Software-Integrationstests in frühen Phasen möglich

»Mit dem neuen, kompakten HIL-System können Hardware-Software-Integrationstests nun bereits in frühen Phasen direkt am Arbeitsplatz des Entwicklers erfolgen«, erklärt Christian Wördehoff, Product Lead Business Field Manager HIL Testing bei dSpace.

Die MicroLabBox II eignet sich für Testaufgaben im Bereich der Elektrifizierung, wie etwa bei der Absicherung von Steuerungen elektrischer Antriebe, Leistungselektronik oder Ladeprotokollen. Das System adressiert Closed-Loop-Testanwendungen in verschiedenen Industrien – von der Fahrzeugtechnik und Agrartechnik über Robotik und Medizintechnik bis hin zur Industrieautomatisierung.

dSpace auf der embedded world

dSpace zeigt die MicroLabBox II und verschiedene C-HIL-Test-Absicherungsmöglichkeiten auf der embedded world in Halle 4 an Stand 327. Im Zentrum des dSpace-Messeauftrittes steht das Thema SIL-HIL-Durchgängigkeit. dSpace demonstriert, wie Software für elektrische, autonome und softwaredefinierte Fahrzeuge mit durchgängigen Software-in-the-Loop (SIL)- und Hardware-in-the-Loop (HIL)-Lösungen für Simulation und Validierung effizient getestet werden kann.