Texturqualität multikristalliner Silizium-Wafer messen

GP Solar stellt den GP TEX-Q.Scan vor - ein optisches Inspektionssystem zur Beurteilung der Texturqualität multikristalliner Silizium-Wafer.

Es ermittelt die Texturqualität über einen komplexen Analysealgorithmus; die Ausgabe erfolgt direkt als Texturqualität auf einer Qualitätsskala von 1 bis 5.

Das Inspektionssystem lässt sich direkt ober- oder unterhalb von Rollen- und Bandtransporten integrieren. Die Messung erfolgt on-the-fly mit einem Durchsatz von 1 Wafer pro Sekunde.

Halle A5, Stand 490

www.gpsolar.de

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