NanoFocus stellt die neue Generation des optischen 3D-Oberflächenmesssystems µsurf solar vor, eine Universallösung für Messaufgaben vom cm- bis zum nm-Bereich in der Photovoltaikproduktion. Das neu entwickelte Beleuchtungsmodul sowie speziell beschichtete Optikkomponenten sorgen für eine hohe Qualität der aufgenommenen Rohdaten.
Die patentierte Multi-Pinhole-Technologie verleiht dem System eine hohe Dynamik. Diese verhindert Artefakte, die durch Scan-Richtung und überstrahlende Nachbarpixel entstehen. Bis zu 30 Messungen pro Minute sind nun dank der integrierten Solarsoftware mit spezifischen Auswertealgorithmen und -modulen sowie durch diverse Automatisierungsfunktionen möglich.
Tools wie die Pyramiden-Quantifizierung oder die Defekterkennung erleichtern die Auswertung der Oberflächen. Auch schwierige Charakteristika wie steile Kanten, Antireflexschichten, komplexe Geometrien und Strukturen im Nanometerbereich lassen sich berührungslos, schnell und rückführbar vermessen. So werden beispielsweise Pyramiden, Sawmarks, Busbare, Laserscribes oder Finger in exakte 3D-Daten umgesetzt.
Intersolar 2011, Halle A5, Stand 234