Produkt

GaN-Leistungshalbleiter charakterisieren

Herausforderung GaN-FET-Test

Die dynamische Charakterisierung von Leistungshalbleitern mit großer Bandlücke ist eine echte Aufgabe. Vor allem Leistungshalbleiter-FETs aus Galliumnitrid machen Probleme, weil ihr Betrieb mit höheren Frequenzen und verschiedenen Technologien…

Flexiblere Messtechniklösungen nötig

»5G bedingt neue Drive-Test-Strategien«

Welche Anforderungen bringt 5G in Hinblick auf Drive-Test-Strategien mit sich? Wie…

Hioki

Vielseitiger HF-Prüfadapter

Mit Hilfe der Impedanzanalysatoren der Serie IM758X von Hioki ermöglicht der neue…

Lebensmittelschutz

Radar erkennt Fremdkörper

Geraten Fremdkörper wie Glassplitter in Lebensmittel, kann das für Konsumenten gefährlich…

IoT-Funknetz

Messempfänger für Sigfox

Mit dem tragbaren Messgerät CheckFox 2.0 ermöglicht es Sigfox die Empfangsqualität am…

CompoTEK GmbH

JYEBAO-Testkabel für Laboranwendungen

CompoTEK bietet eine überarbeitete Version von JYEBAO-Qualitätstestkabeln für die…

Millimetergenaue Laufzeitmessung

Neuer Ansatz für die Funkortung

Ein neues Messsystem von Bartels soll künftig eine noch genauere Positionserfassung…

Siglents HF-Portfolio wächst weiter

Spektrumanalyse – jetzt auch in Echtzeit!

Vor wenigen Wochen erst hatte Siglent auf der embedded world 2020 seine neuen Spektrum-…

Siglent baut HF-Analysator-Portfolio aus

Jetzt bis 7,5 GHz

Als »wichtigen Schritt nach oben« bezeichnet Siglent seine neuesten Entwicklungen im…

Siglent erweitert Portfolio

Neue Werkzeuge für die Prüfung von Rundfunk- und HF-Geräten

Mit zwei neuen Geräten, die eine Frequenz von 7,5 GHz bieten, rüstet Siglent seine…