Vielfältiger Funktionsumfang von Hard- und Software erleichtert und beschleunigt Tests
Neue Möglichkeiten mit Boundary Scan
Fortsetzung des Artikels von Teil 1
Neue Möglichkeiten mit Boundary Scan
Als zusätzliche Eigenschaften bietet der Controller 32 spannungsprogrammierbare, dynamische Parallel-I/O-Ports, zwei A/D- und D/A-Kanäle, Ports für externe Triggersignale sowie drei statische I/O-Kanäle. Dadurch kann er für erweiterte Test- und PLD/Flash-Programmieroperationen eingesetzt werden. Auf seiner Basis entwickelte Programme sind ohne Re-Compilation auf jedem anderen Controller der gleichen Serie oder der Scanflex-Plattform ablauffähig.
Der Scan Booster/USB läuft unter der bereits im Markt befindlichen Boundary-Scan-Software „System Cascon“, die ja eigentlich eine Entwicklungsumgebung mit einer speziellen Mixed-Signal-Boundary-Scan-Programmiersprache für IEEE 1149.1/1149.4 und mehr als 30 Werkzeugen zur automatischen Testprogramm-Generierung (ATPG), zur „Pin Failure“-Diagnose (PFD), zur In-System-Programmierung (ISP) sowie zur extensiven Verifikation durch Debugging auf Schematic- und Layout-Level ist.
Auch diese Entwicklungsumgebung wurde weiterentwickelt, und zwar um intelligente Tools zur flexibleren In-System-Programmierung (ISP) von Flash-Speichern. Die Tools bieten einen höheren Automatisierungsgrad und unterstützen neben der Programmierung von diskreten Flash-Bausteinen auch die Programmierung von Mikrocontrollern (MCUs) mit Embedded-( On-Chip)-Flash-Bereichen.
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Hinzugekommen ist in diesem Zusammenhang ein automatisch arbeitender „On-Chip-Flash-Generator“. Er basiert auf der bereits Anfang dieses Jahres eingeführten Streaming-Technologie „VarioTAP“ und ist in der Lage, z.B. MCUs mit integriertem Flash-Speicher über den TAP zu programmieren. Dabei werden die erforderlichen Informationen aus einem entsprechenden IP-Modell des Bausteins gelesen und ein ausführbares Script in der Systemsprache Caslan generiert. Die Größe des Flash-Speichers ist hierbei prinzipiell keinem Limit unterworfen. Der Generator unterstützt auch Multi-TAP-/Multi-Core-Architekturen sowie Scan Router. Dadurch lassen sich On-Chip-Flash-Programmierprozeduren unkompliziert mit anderen ISP- und Testroutinen zu einer kompletten Sequenz kombinieren.
Weiterentwickelt wurde auch der Automatische Flash-Programm-Generator (AFPG) zur Flash-Programmierung per Boundary Scan. Wesentliche Neuerung ist hierbei seine Fähigkeit, auch isolierte Flash-Bereiche, die z.B. durch „scan-unfähige“ Puffer entstehen können, zu identifizieren und dennoch zu programmieren.
Als weitere Innovation wurde bei allen Flash-Programm-Generatoren eine grafische Eingabe der gewünschten Sequenz von Einzelprozeduren wie Blank Check, Löschen, Program, Verify etc. einschließlich der Prozeduren im Fehlerfall integriert. Durch die flussdiagramm-orientierte Darstellung auf dem Bildschirm und durch die Bedienung per Drag and Drop sind diese Tools auch intuitiv bedienbar.
Software-Werkzeug soll Testabdeckung steigern
Das ebenfalls aktiv im Boundary-Scan-Sektor tätige Unternehmen JTAG Technologies (www.jtag.com) hat erst unlängst eine neue Version des Entwicklungs-Tools „ProVision“ entwickelt. Ziel war es, noch mehr Funktionen innerhalb der grafischen Anwenderschnittstelle zu bieten (Bild 2). So wurde jetzt der Application Executor (AEX), ein Test-Sequenzer und Manager mit recht breitgefächertem Funktionsumfang, in das Entwicklungs-Tool integriert. Damit können Testingenieure nun vollständige Sequenzen für Test- und ISP-Anwendungen entwickeln und überprüfen, wobei auch bedingte Verzweigungen sowie die Befehls- und Steuerungsmöglichkeiten von AEX innerhalb der Entwicklungsumgebung zur Verfügung stehen. Letztlich lassen sich auch die entwickelten Sequenzen relativ einfach exportieren und mit Hilfe einer Produktions-Software des gleichen Unternehmens auf eigenständigen oder integrierten Testsystemen ausführen.
Zu den Weiterentwicklungen in der neuen ProVision-Version gehören ebenfalls: die automatische Unterstützung komplexer Puffer- und Multiplexer-Konfigurationen für die Programmierung und den Test von Flash-Speichern, eine vereinfachte Generierung von Infrastrukturtests (für die nur die Modelle der Boundary-Scan-Bauteile und keine Informationen über die ganze Baugruppe erforderlich sind) sowie die Erweiterung der bestehenden Bauteile-Bibliothek um zahlreiche neue Bauteil-Modelle. Die neue Version ist für Anwender mit gültigem Wartungsvertrag kostenlos erhältlich; ansonsten kostet sie ab etwa 11 500 US-Dollar.
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- Dipl.-Ing. (FH) Wolfgang Hascher
