Sicherheit im elektrischen Baugruppentest
Auf den durchgängigen ESD-Schutz kommt es an
Fortsetzung des Artikels von Teil 1
Fehlende Schutzdioden und die Auswirkungen
Beim Incircuit-Test, gerade wenn Spulen oder Transformatoren getestet werden, besteht die Gefahr, dass durch die Gegen-EMK Pulse erzeugt werden, die mehrere tausend Volt haben und zur Zerstörung des Prüflings und des Testsystems führen können. In diesem Fall müssen auf dem Testzweig Suppressor-Dioden mit etwa 100 V eingesetzt werden, so dass eine Hochspannungszerstörung durch Gegen-EMK nicht möglich ist. Hierbei handelt es sich jedoch nicht um ESD-Probleme: »Wir lernen immer wieder, dass Bauteile, gerade ICs oder spezielle Mikroprozessoren aus dem asiatischen Raum, ohne Schutzdioden gefertigt werden, so dass diese ICs bei den typischen 500-mV- oder 1-V-Messspannungen für die Bauteilmessung im Incircuit-Test zerstört werden und das Problem fälschlicherweise auf ESD-Zerstörung zurückgeführt wird, was dann wieder eine Welle wirkungsloser ESD-Investitionen auslöst«, führt Reinhardt aus. »Unsere Incircuit-Tester testen Widerstände, Kondensatoren, Induktivitäten und sensible Halbleiter mit einer Messspannung von maximal 200 mV, was weitere Zerstörungen garantiert unterdrückt.«
Zum Schluss, wenn die Baugruppe dem Testsystem entnommen wird, ist wieder ein Handschutz nötig und der Aufnahmebehälter für das Produkt sollte nach wie vor mit Entladevorrichtung und ESD-Schutz genutzt werden.
»Wir arbeiten oft mit Baugruppen, die hohe Spannungen während des Funktionstests beinhalten. Daher wissen wir, dass es absolut wichtig ist, nach dem Test einen Entladevorgang vorzunehmen. Der ist in den heutigen Testsystemen integriert und sollte entsprechend genutzt werden. Somit sind Restladungen auf dem Prüfling auf ein Minimum begrenzt und nachfolgende Zerstörungen werden sicher vermieden.«
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