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Höhere Effizienz verkürzt die Time-to-Market und Time-to-Yield

Advantest erweitert SoC-Testplattform

21. März 2011, 15:59 Uhr | Nicole Wörner

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Testlösung für Automotive- und Power-Management-Bausteine

Ebenfalls für die SoC-Testerplattform T2000 bietet Advantest seit Anfang November 2010 auch eine Testlösung für Automotive- und Power-Management-ICs an. Die »Integrated Power Solution« (IPS) besteht aus drei Modulen und bietet aufgrund der hohen Integrationsdichte und der optimierten Instrumentenstruktur nach Überzeugung des Herstellers einen deutlichen Testkostenvorteil gegenüber bisherigen Lösungen. Darüber hinaus reduziert die multifunktionale Architektur den Programmieraufwand und führt zu einer deutlich vereinfachten Beschaltung des Testobjekts (DUT), was die Time-to-Production erheblich reduziert.

Die wichtigsten Merkmale der IPS-Lösung:

MMXH: Das Modul MMXH ist speziell für den Einsatz im Mixed-Signal-Bereich konzipiert. Es dient dem gleichzeitigen Test analoger und digitaler Bausteinfunktionen. Die hohe Integrationsdichte von 32 digitalen Kanälen und 32 analogen 4-Quadranten-Strom- und -Spannungsquellen pro Modul ermöglicht eine deutliche Steigerung der Testparallelität.

MFHP: Die floatende Hochstromquelle MFHP besitzt sechs unabhängige Kanäle pro Modul und dient dem Test integrierter Hochstrom-Komponenten wie etwa High- und Low-Side-Schalter. Die Quelle ist kombiniert mit je einem Signalgenerator und einer Signalaufzeichnungseinheit pro Kanal, um dynamische Hochstromtests effizient durchzuführen.

MPCM: Das Matrixmodul MPCM bietet zusammen mit der Hochstromquelle eine kostenoptimierte Testlösung für Automotive- und Power-Management-Halbleiter. Eine Vielzahl der benötigten Hochstrompfade lässt sich während des Bausteintests laufzeitoptimiert selektieren.