Testsystem-Standard: AXIe – die ATCA-Erweiterung
Agilent Technologies, Aeroflex und die Test Evolution Corp. stellten am ersten Tag der productronica 2009 einen auf dem bekannten ATCA-Standard aufbauenden, weiteren Test- und Modular-Equipment-Standard vor.
Der Standart nennt sich AXIe (AdvancedTCA Extensions for Instrumentation and Test) und ist zunächst eine spezifizierte Plattform für Halbleiter- und General-Purpose-Mess- und Testsysteme. Künftige Hard- und Software- Erweiterungen in andere Mess- und Prüftechnik-Anwendungszweige hinein sind aber möglich. Im neuen Standard nutzbar sind neben ATCA-Komponenten auch Hard- und Software-Elemente der bereits existierenden Standards PXI, LXI und IVI.
Skalierbarkeit und maximal mögliche Modularität seien, laut Larry Desjardin, dem bei Agilent Technologies verantwortlichen Manager für den neuen Standard, die wesentlichen Zielsetzungen bei der Entwicklung von AXIe gewesen. Das wesentliche Kriterium ist die mögliche Integrierbarkeit (sowohl bezüglich Hard- wie auch Software) von existierenden PXI-, LXI- und IVI- Baugruppen. Basis ist, wie erwähnt, der ATCA-PICMG-3.0-Standard. In einem typischen AXIe-Rack sind sowohl PXI- (also LAN-) und PCIe-Steckplätze verfügbar, die Kopplung zu einem steuernden Rechner erfolgt beliebig je nach der Steckplatz-Modul-Konfiguration entweder per LXI- oder PCIe-Verbindung (siehe Grafik). Letztlich ist AXIe eine gut kombinierbare Ergänzung der LXI- und PXI-Instrumentierung. Nicht zuletzt lassen sich Entwicklungskosten einsparen, da bestehende LXI- und PXI-Systemkonfigurationen weiter genutzt werden können.
Gegenüber PXI auffallend ist beim neuen Standard vor allem die erheblich höhere Kühlkapazität in einem Rack, was den Aufbau von aufwändigeren Testsystemen mit den aus dem ATCA-Standard bekannten größeren Boards erleichtern soll. Derzeit nutzbar sind die AXIe-Derivate 1.0 und 1.1, wobei in 1.0, der Anwendung für die General-Purpose-Instrumentierung und für die allgemeine Mess- und Testtechnik, die Local-Bus-, Trigger-Bus-, Frequenz-Referenz- und Sync- sowie die Star-Trigger-Funktionen verfügbar sind. In der für die Halbleiter-Testtechnik konzipierten Version 1.1 sind zusätzlich bidirektionale DSTAR-Funktionen verfügbar, darüber hinaus auch anwenderdefinierte Synchronisations-Kanäle. Ebenso nutzbar sind in AXIe 1.1 der Load-Board-Support und der Field-Calibration-Support, also typische in der Testtechnik benötigte Systemfunktionen.
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