PXI-Standard: Weltpremiere mit Mixed-Signal-Modul-Suite
Insgesamt zehn neue DC-, Digital-, HF- und Schaltmodule im PXI-Standard für universelle Mixed-Signal-Testanwendungen stellte National Instruments weltweit erstmals auf der productronica vor.
Adressiert werden soll damit unter anderem das Marktsegment der Halbleiter- und allgemeinen Mixed-Signal- sowie HF-Tests. Die neuen Module sind unter dem Namen »PXI Semiconductor Suite« zusammengefasst, wobei durchaus nicht nur Anwendungen im reinen Halbleitertest realisierbar sind, sondern wegen der sehr breit angelegten Modulvielfalt vielmehr auch universelle Mess-, Prüf- und Test-Applikationen im gesamten Mixed-Signal-Bereich, z.B. bei A/D- und D/A-Wandler-, Power-Management-, HF- und Wireless- sowie MEMS-Komponenten und damit bestückten Baugruppen. Gedacht sind die Module für den Einsatz unter der Programmier- und System-Design-Software LabVIEW.
Verfügbar sind vier neue Module aus der PXIe-654-Familie (High-speed-Digital-I/O), die Taktfrequenzen bis zu 200 MHz und Datenraten bis 400 Mbit/s bieten. Testen lassen sich damit nicht zuletzt High-speed-Komponenten, die mit schnellen Kommunikatonsprotokollen arbeiten. Die Baugruppen bieten zusätzliche Funktionen, wie z. B. die bidirektionale Kommunikation, den Bitvergleich in Echtzeit, einen DDR-Modus (Double Data Rate), unterschiedliche Datenverzögerung für einzelne I/O-Bänke sowie eine Auswahl an 22 Spannungspegeln zwischen 1,2 und 3,3 V.
Neu ist auch eine Präzisions-SMU (Source-Measure- Unit) unter dem Namen PXI-4132, sie besitzt eine Messempfindlichkeit bis zu 10 pA für hochauflösende Strommessungen, integriert dezentrale 4-Leiter-Messungen sowie einen Guard-Anschluss und stellt auf einem einzigen PXI-Steckplatz bis zu 100 V (bipolar) bereit.
Ebenfalls verfügbar sind zwei neue Schaltmodule zum Multiplexen von Messkanälen sowie ein HF-Vektorsignalanalysator (NI PXI-5663E) und ein HF-Vektorsignalgenerator (NI PXIe-5673E), beide für Frequenzen bis zu 6,6 GHz. Sie ermöglichen rasche Änderungen ihrer HF-Parameter durch eine neue Funktion, den RF List Mode, was zu einer erheblichen Erhöhung des Prüfdurchsatzes beitragen soll. Mit dieser neuen Funktion können Anwender vorkonfigurierte Geräteparameter laden und so verschiedene HF-Parameter-Konfigurationen ohne Verzögerung in einem Testsystem abarbeiten.
Interessant auch die Möglichkeit des Importierens digitaler Vektorformate wie WGL und STIL, was die Anwendungsmöglichkeiten in den Bereich der allgemeinen ATE-Technologie (Automatic Test Equipment) hinein erweitern soll.
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