Mixed-Signal-Oszilloskope beim Debugging von digitalen Schaltungen
Fortsetzung des Artikels von Teil 2
Praxisbeispiel: Umfassende Analyse mit analoger und digitaler Erfassung
Bei diesem Beispiel geht es um die Überprüfung von LVPECL-Signalen (Low-Voltage Positive Emitter-Coupled Logic). Die 0 des Signals besteht aus einem Rechtecksignal von ca. 50 ns Dauer, die 1 des Signals aus einem Rechtecksignal von ca. 90 ns Dauer (Bild 7). Zwischen den Signalen besteht keine zeitliche Beziehung.
Für die Überprüfung dieser LVPECL-Signale wendet man dasselbe Verfahren an wie beim vorherigen Beispiel mit dem TTL-Burst. Um Signale zu finden, die außerhalb der Spezifikation liegen, wird der Trigger des Mixed-Signal-Oszilloskops auf eine Impulsbreite unterhalb von 22,4 ns eingestellt. Das Mixed-Signal-Oszilloskop triggert nun auf einen Glitch von 727,3 ps Dauer am unteren Signal. Um diesen Glitch erfassen zu können, muss das Mixed-Signal-Oszilloskop eine zeitliche Auflösung aufweisen, die unter 727,3 ps liegt (Bild 8).
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