Keithley Webinar: Tipps und Tricks beim On-Wafer-Probing
26. Januar 2010, 8:51 Uhr |
Peter Wintermayr, elektroniknet.de
Der Messtechnik-Spezialist Keithley veranstaltet am 28. Januar ein Webinar mit dem Titel: »Tips, Tricks, and Traps for On-Wafer Probing«.
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Das Webinar dauert beginnt um 15.00 Uhr Mitteleuropäischer Zeit und dauert rund eine Stunde. Vortragssprache ist Englisch. Ziel der Veranstaltung ist es häufig auftretende Probleme und Fehler beim On-Wafer-Probing aufzuzeigen und entsprechende Lösungsvorschläge zu unterbreiten. Das Webinar ist kostenlos zur Teilnahme ist lediglich eine Registrierung notwendig.
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