Teststrategien unter der Lupe
Effizienter Halbleiter-Test als Schlüsselfaktor zum Erfolg
Fortsetzung des Artikels von Teil 1
Teststrategien unter der Lupe
Die Kombination macht’s
Oft ist es erst die Kombination der genannten Teststrategien, die eine optimale Testabdeckung bei niedrigsten Testkosten möglich macht. Zu diesem Zweck hat Advantest die T2000-SoC-Testplattform entwickelt. Sie deckt verschiedenste Teststrategien ab und adressiert u.a. Bausteine wie Mikrocontroller, Mikroprozessoren, Draht- und drahtlose Kommunikation, Automotive und Entertainment. Diese Palette wird kontinuierlich für alle Marktsegmente erweitert.
»Der T2000 ist speziell für das Multi-Site-Testen, d.h. das gleichzeitige Testen mehrerer Komponenten ausgelegt«, erklärt Ainslie. »Die Testprogrammumgebung ist bereits mit allen nötigen Multi-Site-Test-Funktionen ausgestattet, und der Aufwand, ein Single-Site-Programm auf Multi-Site zu konvertieren, ist um ein Vielfaches kleiner als umgekehrt.« Der T2000 ist mit einer modernen Rechner- und Kommunikationsarchitektur ausgestattet, um eine effiziente Prüfprogrammausführung sicherzustellen, Ladezeiten von Testprogrammen zu minimieren und Testergebnisse aus dem Baustein schnell zu bearbeiten. Jedes Testinstrument verfügt über einen dezidierten Speicher, in dem das Testprogramm nach dem Hochladen zwischengespeichert wird. Die T2000-Hardware wird durch spezielle Tools ergänzt, die ohne großen Aufwand einen schnellen Transfer von EDA-Daten in ein Testprogramm ermöglichen. Ebenso ist eine Offline-Tester-Simulationssoftware verfügbar, mit der ein Prüfprogramm ohne Zuhilfenahme des Testers geprüft und fertig gestellt werden kann. Ist das Testsystem mit mehreren Site-Controllern ausgestattet, können sogar mehrere User gleichzeitig asynchron und unabhängig von einander an verschiedenen Prüfprogrammen gleichzeitig arbeiten.
Das modulare Konzept der T2000-Serie ermöglicht es dem Anwender, das Testsystem nach seinen aktuellen Anforderungen zu konfigurieren. Advantest bietet dafür wahlweise eine 13-, 26- und 52-Slot-Version des Testkopfes an. Die Kompatibilität des Testprogramms und des Device-Interfaces bleibt dabei erhalten und führt zu einer leichten Skalierbarkeit.
Für den »Low-cost«-Sektor gibt es das T2000-LS-Mainframe, ein rein luftgekühltes Testsystem, das eine große Anzahl luftgekühlter Testinstrumente wie Digitale Pins, PMU, Base Band, Audio sowie RF unterstützt. Dieses ist auch als flüssigkeitsgekühlte Version verfügbar und kann dann kombiniert luftgekühlte und flüssigkeitsgekühlte Module aufnehmen.
Advantest bietet ebenfalls eine Vielzahl von Device-Interface-Lösungen an, um auch einen Scheibentest mit hoher Nadelanzahl zu ermöglichen. »Die Fläche der Performance-Boards für den Finaltest ist ausreichend, um sogar mehr als die von modernen Logik-Handlern für den Paralleltest geforderte Anzahl von Bausteinen unterbringen zu können«, betont Ainslie. »Auch die Datenkommunikationsstruktur im Tester wurde für den Multi-Site-Test optimiert, so dass etwaige Nachteile durch den Datenstrom beim Paralleltest reduziert wurden. Dies ist eine wichtige Schlüsselfunktion, um Kosten beim Paralleltest zu reduzieren, denn hier summieren sich leicht Verluste per DUT zu einem erheblichen Overhead.«
Jobangebote+ passend zum Thema
- Effizienter Halbleiter-Test als Schlüsselfaktor zum Erfolg
- Teststrategien unter der Lupe
Lesen Sie mehr zum Thema
Das könnte Sie auch interessieren
