Elektronik

Semikron Innovation Award 2016

Materialfehlerdiagnose für SiC-Wafer ausgezeichnet

Der diesjährige Semikron Innovation Award geht an Forscher des Fraunhofer IISB, der FAU Erlangen-Nürnberg, Infineon und Intego für die Entwicklung eines Messgeräts zur Materialfehlerdetektion auf SiC-Wafern. Was zeichnet das Verfahren aus?

Neuartiger Ventilator von Ziehl-Abegg

Buckelwale als Vorbild

Ziehl-Abegg bringt bei der aktuellen Neuentwicklung eines Ventilators erneut Erkenntnisse…

Mikrocontroller-Support

C-Compiler komplettiert die Toolchain

Der kostenlose Cosmic C-Compiler for STM8 (COS-C-COMPILER) ist komplett, weist keine…

Drei Fragen an Raphael Eckert

Richtiger Umgang mit Bleibatterien

Dass verschlossene Blei-Säure-Batterien so vielfältig verwendbar sind, liegt an ihrer…

Bahntechnik

Wandler beurteilen und qualifizieren

Ohne zuverlässige Stromversorgung gibt es keine stabilen Prozesse bei elektrischen und…

DC/DC-Wandler auslegen

Tool bietet schnelle Hilfe für Systemingenieure

Die Zahl der Versorgungsspannungen und damit auch der Stromversorgungen auf…

Phoenix Contact / Leiteranschlüsse

Hohe Leistungen auf Leiterplatten bringen

Mehr Leistung und weniger Raum – die Leistungselektronik folgt diesem klaren Trend.…

Datenerfassungskarten

Ultraschnelle Aufzeichnung mit dem PC

Spectrum stellt eine neue Serie von Datenerfassungskarten vor. Die PCIe-Karten mit…

Gas- und Flüssigkeitszähler

Genaue Messung ohne Batterien und externe Stromversorgung

Hengstler hat den neuen industriellen Gas- und Flüssigkeitszähler SPC vorgestellt, der…

Leiterplattenklemmen

Verbindet Leiter bis 16 mm²

Weidmüller präsentiert während der PCIM 2016 in Halle 7 am Stand 416 die neue…