Mit den Konfokalen Wegsensoren von Micro-Epsilon können mehrschichtige transparente Materialien vermessen werden. Die Konfokal-chromatischen Sensoren mit Multi-Peak-Option der Reihe confocalDT können bis zu fünf Schichten durch Auswertung von sechs Messwerten an den jeweiligen Grenzflächen vermessen. Damit die Schichtdicke richtig bestimmt werden kann, werden im Controller die Brechungsindizes der jeweiligen Schicht aus einer Materialdatenbank eingeholt. Zusätzlich wird der Brechungsindex wellenlängenabhängig korrigiert. Die Dickenkalibrierung erfolg in der Software des Controller über drei Brechungswerte am Anfang, Ende und in der Mitte des Messbereichs.
Anwendung finden die Sensoren z.B. in der Qualitätsprüfung und Prozesssteuerung in der Herstellung von Sicherheitsglas, Solarzellen, Flatscreens, Smartphone-Displays.