Neue Machine-Vision-Technik auf KI-Basis
Optisch inspizieren ohne vorhandene Schlecht-Muster
Für die Software seiner Bildverarbeitungssysteme der Serie FH hat Omron KI-Tools vorgestellt, die dem Unternehmen zufolge erstmals optische Inspektionen ohne vorhandene Schlecht-Muster ermöglichen.
Fortsetzung des Artikels von Teil 1
Die Hauptmerkmale der neuen Vision-KI-Lösung
KI erfasst Fehler mit quasi-menschlicher Sensibilität: Ein neuer Bildfilter auf KI-Basis ist in der Lage, auch feine Kratzer auf Oberflächen zu erkennen. Kratzer und Schönheitsfehler, die früher nur schwer zu erfassen waren, lassen sich jetzt ohne Proben oder Anpassungen detektieren.
KI erkennt „gute“ Produkte wie ein erfahrener Prüfer: Die Systeme der Baureihe FH können akzeptable Abweichungstoleranzen eigenständig bestimmen und für die Prüfung nutzen. Ein KI-Feinabstimmungs-Tool lernt aus den Bilddaten fehlerfreier Produkte, um schnell „Know-how“ zu erwerben. Dies hilft, eine fälschliche Erfassung unkritischer Fehler zu vermeiden, die durch starre, zu enge Prüftoleranzen entstehen können.
Es ist keine spezielle Hardware-Umgebung erforderlich: Für KI-Tools und deren Anwendungen war bisher eine High-End-Umgebung vonnöten. Die integrierte KI-Lösung von Omron ist in Form benutzerfreundlicher Tools in die FH-Software integriert. Spezielle Hardware oder spezifisches KI-Wissen sind nicht nötig, und Nutzer können mit der intuitiv bedienbaren FH-Software arbeiten.
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