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GaN - Neue Materialien verdrängen Leistungshalbleiter aus Silizium
13. November 2014,
6 Bilder
Seite 1 von 6
Bild 1. EpiGaN verwendet einen speziellen in situ Capping Layer aus SiN, der per MOCVD-Deposition auf die HEMT-Epi-Wafer aufgewachsen wird.
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