Keithley Instruments
Halbleitertests einfacher gestalten
Keithley hat eine neue Version seiner ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software für den Halbleitertest vorgestellt. Das einfach zu bedienende Tool wurde speziell für die Verifikation, das Debugging und die Analyse von Bauteilen optimiert.
Unter anderem bietet es eine umfangreiche Testbibliothek, so dass keine Programmierung erforderlich ist. Die intuitive grafische Anwenderschnittstelle vereinfacht zudem I-V-Tests sowie die Erfassung und Analyse der Daten. Der neue Trace-Modus der Version 1.2 ermöglicht interaktive Bauteiltests; damit können Anwender den Arbeitsbereich und die Charakteristik eines Testobjekts untersuchen, ohne dass das Bauteil beschädigt wird. Dieser interaktive Modus beinhaltet eine komfortable Methode zur Steuerung eines Spannungsverlaufs entweder mit einem virtuellen Schieberegler oder über die Pfeiltasten der PC-Tastatur.
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