Advantest erweitert die SoC-Testplattform V93000 EXA Scale um die Testkarte Pin Scale 5000B. Sie adressiert den steigenden Testaufwand bei Chips für KI und High Performance Computing, deren Komplexität durch neue Prozessknoten, heterogene Integration und Chiplet-Designs deutlich zunimmt.
Mit wachsender Integrationsdichte steigt auch der Bedarf an Testdaten und -abdeckung. Die Pin Scale 5000B setzt hier an und vergrößert den verfügbaren Vektorspeicher deutlich. Die Architektur ist auf skalierbare Speichernutzung ausgelegt und berücksichtigt insbesondere Chiplet-basierte Designs. Dadurch sinkt der Ressourcenbedarf im Testsystem, während sich bestehende Programme weiterverwenden und anpassen lassen.
Ein Schwerpunkt liegt auf der Unterstützung moderner Scan-Fabric-Architekturen. Die Testkarte ermöglicht das parallele Prüfen mehrerer IP-Kerne über einen Streaming-Ansatz. Ergebnisse lassen sich innerhalb einer einzigen Testausführung kernübergreifend beobachten. Das erleichtert die Analyse von Fehlerverteilungen und erhöht die Transparenz auf Kernebene. Laut Hersteller lassen sich so Testzeiten und -kosten reduzieren.
Die Datenübertragung erreicht bis zu 5 Gbit/s und basiert auf der etablierten Pin-Elektronikarchitektur der Vorgängergeneration. Die neue Karte ist vollständig kompatibel zur Pin Scale 5000 und als erweitertes Superset ausgelegt, sodass bestehende Konfigurationen weiter genutzt werden können.
»Weil KI- und HPC-Bauteile die Grenzen von Skalierung und Integration immer weiter verschieben, müssen sich Halbleiter-Testlösungen ebenso schnell weiterentwickeln«, betont Ralf Stoffels, Executive Officer und Division Manager der V93000 Product Unit bei Advantest. »Pin Scale 5000B baut auf unserer bewährten Pin-Scale-5000-Karte auf und ergänzt sie, um die Leistungsfähigkeit der V93000-EXA-Scale-Plattform weiter auszubauen – mit der Performance und Skalierbarkeit, die unsere Kunden benötigen, um der steigenden Komplexität moderner Bauelemente zu begegnen.«