<p>Eine hohe Auflösung und Empfindlichkeit bieten die ICR-Nahfeldmikrosonden von Langer EMV-Technik.
Eine hohe Auflösung und Empfindlichkeit bieten die ICR-Nahfeldmikrosonden von Langer EMV-Technik. Messungen mit ihnen erfordern somit Manipulatoren. Wer die Sonden nutzt, kann an ICs und elektronischen Flachbaugruppen magnetische oder elektrische Nahfelder messen.
Die ICR-Sondenköpfe haben einen Durchmesser von 500 bis 150 µm und ermöglichen es, die E- und H-Felder getrennt zu untersuchen. Sie bewegen sich dabei etwa 20 µm über dem Messobjekt und ermöglichen somit eine getrennte Erfassung der E- und H-Nahfelder bis 3 GHz. Ein Verstärker ist im Sondengehäuse integriert.
Langer EMV-Technik
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