Völlig freie Skalierung der Testressourcen

<p>Von Göpel electronic ist eine Boundary-Scan-Hardware-Architektur der nächsten Generation unter dem Namen Scanflex entwickelt worden.

Von Göpel electronic ist eine Boundary-Scan-Hardware-Architektur der nächsten Generation unter dem Namen Scanflex entwickelt worden. Sie basiert im Kern auf einer vollständig modularen Kombination von Boundary-Scan-Controllern mit abgesetzten TAP-Transceivern (SFX-Transceiver) und parallel angesteuerten I/O-Modulen (SFX-Module).

Durch die offene Konfigurierbarkeit der SFXModule stehen optional zusätzliche analoge, digitale und Mixed- Signal-Kanäle direkt am Prüflings-Interface zur Verfügung.

Zu den weiteren Innovationen gehört die Unterstützung von bis zu acht parallelen, voneinander unabhängigen TAPs, wobei jeder TAP individuell in einer Vielzahl von Parametern programmierbar ist.

Weiterhin stehen 32 I/Os für Ereignissteuerungen und acht Auxiliary I/Os für zusätzliche analoge und digitale Funktionen zur Verfügung. Prinzipiell ist mindestens ein SFX-I/O-Modul auf einen SFX-Transceiver aufsteckbar. Alternativ können jedoch auch mehrere SFX-I/O-Module an den SFX-Transceiver oder den SFXController über einen externen Link angekoppelt werden.

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