Suchergebnisse zu "Leiterplatten"

Artikel (3192 Treffer)

Keine Null-Fehler-Fertigung ohne Teststrategie?
© Markt&Technik
10.12.2012

Markt&Technik ZVEI Round Table

Keine Null-Fehler-Fertigung ohne Teststrategie?

Die Null-Fehler-Quote ist der Wunschtraum aller Kunden. Warum zur "Null-Fehler-Strategie" aber auch eine Teststrategie gehört, diskutierten die…

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Thermische Probleme gelöst
© Fotolia.de/irontrybex
14.09.2016

Point-of-Load-Wandler

Thermische Probleme gelöst

Bei allem Respekt für das Know-how rund um Bode-Diagramme, Maxwell-Gleichungen sowie Pole und Nullstellen: Doch IC- und Schaltungsentwickler im…

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Gemischt bestücken – wie lässt sich der Druckprozess optimieren?
08.04.2010

SMT-Prozesstechnik

Gemischt bestücken – wie lässt sich der Druckprozess optimieren?

Mehr Funktionen und gleichzeitig immer kleinere Baugruppen - das passt eigentlich nicht zu den Regeln des Design-for-Manufacture (DFM) und stellt die…

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Lebensdauer von LEDs auf dem Prüfstand
© Cree
03.02.2014

LM-80- und TM-21-Tests

Lebensdauer von LEDs auf dem Prüfstand

Trotz allmählichen Nachlassens des Lichtstromerhalts sind viele LED-Leuchten über die Zeitspanne hinaus funktionsfähig, die mit dem L70-Verfahren…

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12.08.2009

Entwicklung, Produktion und Test elektronischer…

»Eine durchdachte Prüfvorbereitung ist das A und O

Im Hinblick auf den steigenden Zeit- und Kostendruck kommt der Teststrategie bei der Entwicklung elektronischer Baugruppen eine wichtige Bedeutung zu.…

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RFID: Offene Standards sind ein Trend
© NXP
27.06.2011

Dr. Tilo Pannenbäcker: »2011 ist für NFC das…

RFID: Offene Standards sind ein Trend

Behalten die Branchenbeobachter recht, »wird 2011 das Durchbruchsjahr für Near Field Communication«, sagt Infineon-Manager Tilo Pannenbäcker - ein…

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07.01.2014

Siliziumkarbid-MOSFETs

Verbesserte zweite Generation

Seit Anfang 2011 sind MOSFETs aus Siliziumkarbid kommerziell erhältlich. Anfang dieses Jahres ist nun die zweite Generation erschienen. Wo liegen die…

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Den perfekten Formfaktor finden
© DH electronics
05.10.2022

Entwickeln von System on Modules

Den perfekten Formfaktor finden

Individuell, herstellerspezifisch oder Branchenstandard? Bei der Auswahl des Formfaktors für System on Modules gibt es drei Möglichkeiten mit…

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12.05.2011

Embedded Instrumentierung kann Testprobleme lösen

Bauelemente übernehmen Testfunktionen

Die Begriffe Strukturtest, Funktionstest und Testabdeckung werden zuweilen unterschiedlich interpretiert, so dass eine nähere Erläuterung sinnvoll…

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