Jitteranalyse-Werkzeug mit Präzisions-Algorithmen

Advantest und Wavecrest haben zusammen ein neues Jitteranalyse-Softwarewerkzeug (JAT) für die mehrkanaligen 6,5-Gbit/s-High-Speed-SerDes-Testapplikationen von Advantest entwickelt.

Das neue Softwarewerkzeug ermöglicht eine vielseitige und schnelle Analyse der Leistung, Zuverlässigkeit und Kompatibilität von schnellen seriellen Sendern, Empfängern und Schnittstellen für komplexe Internet-Infrastrukturanwendungen, wie Fibre Channel, SONET, Gigabit Ethernet, PCI Express, SATA, und FB DIMM.

Das 6,5-Gbit/s-High-Speed-Schnittstellen-Testmodul und das neue Jitter-Analysewerkzeug wurden für die Testsystem-Plattform T2000 von Advantest entwickelt und stellen damit optimierte Umgebung für den Test von SoC-Bauteilen mit High-speed-Schnittstellen zur Verfügung.

Die Messmöglichkeiten des neuen Jitter-Analyse-Tools umfassen Deterministic Jitter, Random Jitter, Total Jitter und die Messung der Augenöffnung bei schnellen seriellen Verbindungen. Jitter-Messungen werden genutzt, um die Zuverlässigkeit der Datenübertragung von schnellen seriellen Schnittstellen zu ermitteln.

Es lassen sich auch Jittermessungen relativ zu einem empfangenen, eingebetteten oder gemeinsamen Takt durchführen. Auf diese Weise kann man mit einem Tool unterschiedliche schnelle Schnittstellen, einschließlich PCI-Express Generation 2, XAUI Revision 2 und HyperTransport Revision 3, sowohl charakterisieren, als auch testen. Außerdem lässt sich Jitter gleichzeitig auf mehreren Kanälen messen, ohne dass zusätzlich komplizierte MUX-Hardware oder externe Messgeräte notwendig wären.

Es kommt dabei der patentierte TailFit-Algorithmus von Wavecrest zum Einsatz, der Dual-Dirac-Messungen ermöglicht, die derzeit zu den wichtigsten Parametern in der Jitter-Spezifikation der meisten schnellen SerDes-Schnittstellen gehören.

Die Tester der Serie T2000 sind übrigens die erste Testplattform auf der Basis der offenen OPENSTAR-Architektur des "Semiconductor Test Consortium".

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