Advantest erhält »Best in Test Award«

Die integrierte SoC-Testzelle T2000 LSMF/M4841 von Advantest hat den »2008 Best in Test Award« der Zeitschrift Test & Measurement World erhalten.

Mit dieser Auszeichnung kürt die amerikanische Zeitschrift Test & Measurement World seit 1991 jedes Jahr die innovativsten neuen Produkte aus allen Bereichen der Mess- und Prüftechnik.

Die SoC-Testzelle von Advantest besteht aus dem integrierten Testsystem T2000 LS und dem dynamischen Testhandler M4841. Mit dem Testsystem T2000 ist der parallele Test von 16 SoC-Bauteilen mit hoher Pinzahl möglich. Das System erreicht dabei einen Durchsatz von bis zu 18.500 Bauteilen pro Stunde. Das flüssigkeitsgekühlte Testsystem hat einen Hochleistungs-Messkopf mit 26 Steckplätzen, der mit Modulen für HF-, Audio- oder Basisbandtest und Datenumwandlung bestückt werden kann.

Der Testhandler M4841 eignet sich für unterschiedliche Gehäusetypen und ist mit der »Soft-Touch«-Technik von Advantest ausgestattet, die elektrisch-pneumatische Luftdrucktechnik nutzt, um sehr kleine Bauteile bei der Kontaktierung nicht zu beschädigen.