SI Scientific Instruments SI stellt neues Solar-Spektrometer vor

Für Anwendungen im Wellenlängenbereich zwischen 200 und 1700 nm ausgelegt ist das Solar-Spektrometer »EPP2000-Solar« von SI Scientific Instruments.
Für Anwendungen im Wellenlängenbereich zwischen 200 und 1700 nm ausgelegt ist das Solar-Spektrometer »EPP2000-Solar« von SI Scientific Instruments.

Für Anwendungen im Wellenlängenbereich zwischen 200 und 1700 nm ausgelegt ist das Solar-Spektrometer »EPP2000-Solar« von SI Scientific Instruments. Dabei ist es unerheblich, ob die Sonne direkt gemessen wird oder eine Simulation mittels künstlicher Lampen zur Qualifizierung von Solarzellen stattfindet.

Der Standardwellenlängenbereich des Gerätes liegt bei 280 bis 900 nm bzw. bei 200 bis 1100 nm. Für Wellenlängen bis 1700 nm steht ein mit wahlweise 512 oder 1024 Bildpunkten erhältlicher InGaAs-Detektor zur Verfügung. Die Wellenlängenauflösung bestimmt die Eingangsschlitzbreite und die Stärke des Signals, die Lichteinkopplung erfolgt über den fiberoptischen Eingang.

Über eine USB-Schnittstelle lassen sich die Messdaten bzw. das Spektrum direkt an den PC übermitteln. Die mitgelieferte Software bietet neben Kalibrierroutinen auch eine komfortable Aufbereitung der Daten mit diversen Darstellungsmöglichkeiten.

Das EPP2000-Solar enthält keine beweglichen Teile und ist daher vibrations- und stoßtolerant.