Schnelle elektrische Signale messen Implikationen für das Layout von Testplatinen und Prototypen

Die Nutzung von Simulationstools für Entwicklung und Design schneller elektronischer Systeme ist heute nicht mehr wegzudenken. Trotzdem ist eine effiziente, vor allem aber auch korrekte Test-Methodologie entscheidend für eine schnelle und erfolgreiche Markteinführung neuer Produkte.

Gerade beim Testen der elektrischen Signale, beispielsweise mit Oszilloskopen oder Logikanalysatoren gewinnt angesichts immer höherer Signalgeschwindigkeiten und Datenraten eine optimale Abtastung des zu messenden Signals eine immense Bedeutung.
Jede Abtastung stört/belastet das zu messende Signal in einem gewissen Maße. Um diese Einflüsse zu minimieren und damit die Messergebnisse zu optimieren, ist es äußerst wichtig, schon beim Layout-/Design von Testplatinen bzw. Prototypen die vorgesehenen Testmittel, hier konkret die zu verwendenden Kabel bzw. Tastköpfe zu berücksichtigen und die entsprechenden Schnittstellen oder Kontaktierungsmöglichkeiten einzubauen.

Details zum Thema erläutert Martin Storch von Tektronix in seinem Vortrag auf dem 1. Markt&Technik Symposium »Schneller Entwickeln«.

Der Vortrag befasst sich mit Grundlagen der Signalintegrität und den physikalischen Vorgängen beim Abtasten eines elektrischen Signals. Er zeigt an Beispielen die Folgen von suboptimalen Abtastlösungen und gibt Hinweise zum optimalen Layout für Tastkopfschnittstellen. Es werden auch neueste Trends – Deembedding von Test Fixtures, Equalising von Signalen – bei Konformitätstests von schnellen seriellen Bussen wie USB3.0 und PCIExpress 3.0 besprochen