embedded world 2014 Geballte Oszilloskop-Kompetenz

Wenn es ein Messgerät gibt, auf das ein Embedded-Entwickler heutzutage nicht mehr verzichten kann, dann ist es das Oszilloskop. Entsprechend wichtig ist den Herstellern dieser vielseitigen Helferlein ihre Präsenz auf der embedded world 2014. Auch in diesem Jahr haben sie interessante Neuheiten mitgebracht.

Beginnen wir unseren Rundgang durch die Oszilloskop-Gemeinde mit Rohde & Schwarz (Halle 4, Stand 611). Der Münchner Elektronikkonzern ist im Oszilloskop-Segment zwar noch relativ jung, doch ein Besuch auf dessen Messestand könnte sich für Embedded-Entwickler durchaus lohnen.

So zeigen die Experten unter anderem, wie man mit den neuen Modellen der Serie R&S RTM schnell und einfach Embedded Designs analysieren kann. Die General-Purpose-Scopes warten mit 5 GSample/s Abtastrate und einer Speichertiefe von 20 MSample auf und vereinen Zeitbereichs-, Logik-, Protokoll- und Frequenzanalyse in einem Gerät. Optional lassen sie sich um 16 Logikkanäle erweitern.

Sowohl für die R&S RTM- als auch für die High-end-Serie R&S RTO bietet Rohde & Schwarz nun auch eine Leistungsanalyse-Option an, mit der Anwender die Qualität von Schaltnetzteilen automatisch prüfen können. Dank der hohen Empfindlichkeit und Messdynamik der Oszilloskope lassen sich unter anderem die Ausgangswelligkeit von Stromversorgungen charakterisieren und kleine Spannungen oder Ströme in Schaltwandlern messen.

Für die automatische Jitter-Analyse an Clock- und Datensignalen ausgelegt ist die Option R&S RTO-K12. Bislang galt die als Zeitreferenz genutzte Embedded Clock des Signals als besondere Herausforderung bei der Jitter-Analyse. Dafür wurde in der R&S RTO-K12 nun eine konfigurierbare Software-CDR (Clock Data Recovery) implementiert. Mit der Option R&S RTO-K13 steht auch eine konfigurierbare Hardware-CDR zur Verfügung. Sie ermöglicht erstmals eine auf die Embedded Clock bezogene Triggerung und Signalanalyse in Echtzeit.