Asset Intertech forciert FPGA-Controlled-Test (FCT) FCT integriert und steuert Board-Tester-in-a-Chip

Potenzielle Testabdeckung durch einen FPGA-Controlled-Test
Potenzielle Testabdeckung durch einen FPGA-Controlled-Test

Asset Intertech fokussiert mit seiner Embedded-Instrumentation-Plattform ScanWorks weiterhin auf den FPGA-Controlled-Test, kurz FCT. Das neue »ScanWorks FCT« verbindet automatisch mehrere Instrumente und bindet einen Tester in ein FPGA zum Validieren, Testen oder Debugging der Host-Platine ein. Darin kann der Anwender die benötigten Instrumente wählen, deren Parameter definieren und sie dann als Leiterplattentester in ein FPGA einbinden. Die Steuerung des Board-Tester-in-a-Chips erfolgt über eine Drag-and-Drop-Benutzeroberfläche.

»Das ScanWorks-FCT-Toolset ist das erste in der Industrie, das automatisch einen Board-Tester-in-a-Chip erzeugt, einbindet und steuert«, sagt Glenn Woppman, President und CEO von Asset. »ScanWorks FCT kann in sämtlichen Lebenszyklusphasen eines Produkts von Nutzen sein. So könnte der Tester den Bring-up von Prototypen eines neuen Leiterplattendesigns unterstützen, noch bevor die Firmware oder Betriebssystemsoftware verfügbar ist. Oder der eingebettete Tester wird in den Fertigungstestbetrieb, in Reparaturzentren oder bei der Fehlersuche im Feld eingesetzt. Der Tester lässt sich für alle technischen Anforderungen nutzen und auch wieder entfernen.«

Vor dem Hintergrund, dass die Gatterdichte erheblich ansteigt, stellen FPGAs nach Überzeugung der Experten von Asset eine effiziente Plattform für eingebettete Test- und Messfunktionalität bereit, während die Testabdeckung traditioneller externer Systeme, die mit Sonden arbeiten – beispielsweise Oszilloskope und In-Circuit-Tester – ständig abnimmt. »Höhere Geschwindigkeit und Komplexität haben die elektrische Empfindlichkeit von Chips und Boards bis zu einem Punkt gesteigert, an dem es für physische Sonden schwierig wird, eine hinreichende Testabdeckung und zuverlässige Ergebnisse zu liefern«, erklärt Al Crouch, Chief Technologist, Core Instrumentation von Asset. »Viele Leiterplattenprojekte geraten in Terminschwierigkeiten, weil die Hardware auf der Platine erst dann validiert und getestet werden kann, wenn die Firmware bzw. die Betriebssystemsoftware fertig gestellt ist. ScanWorks FCT ist von der Produktsoftware vollkommen unabhängig. Die Designer können damit einen Board-Tester einbinden, den Bring-up durchführen, erste Prototypen eines Leiterplattendesigns generieren und anschließend den Tester wieder entfernen. Wird er später im Lebenszyklus nochmals gebraucht, kann er wieder eingebunden oder auch teilweise im FPGA belassen werden.«

Die Funktionsweise

ScanWorks automatisiert praktisch den gesamten FCT-Prozess. Instrumente bzw. Instrumentenfunktionen werden aus einer ScanWorks-Bibliothek gewählt und mit einer Beschreibung der unterstützten FPGA-Module aus einer anderen ScanWorks-Bibliothek zusammengeführt. Nachdem der Anwender die Parameter für die selektierten Instrumente festgelegt hat, erzeugt ScanWorks automatisch alle Konstrukte für den Embedded-Tester und ermöglicht die Aufbereitung des Instrumentencodes zu der vom FPGA benötigten Firmware. Anschließend wird das Software-Image des Testers für die Programmierung des FPGA erzeugt. ScanWorks bindet dann den Tester in das FPGA ein und stellt eine Drag-and-Drop-Benutzeroberfläche für Betrieb und Management des Testers bereit. ScanWorks dient dabei als eine einheitliche, automatisierte Umgebung für den gesamten Prozess.

»FCT erweitert die ohnehin schon umfassenden berührungslosen Validierungs-, Test- und Debugging-Technologien, die von der ScanWorks-Plattform für Embedded-Instrumentierung zur Verfügung gestellt werden«, resümiert Crouch. »Die FCT-Funktionalität erhöht auch die Abdeckung, die ScanWorks mit seinen anderen berührungslosen Technologien wie Boundary-Scan-Test, Processor-Controlled-Test und High-Speed-I/O-Validierung bietet. Anwender können damit die Defizite traditioneller kontaktgebundener Instrumente und Tester überwinden, denen die physischen Zugangsmöglichkeiten für ihre Sonden immer mehr abhanden kommen.«