Automated Test Equipment (ATE) »Die Teststrategien und -anforderungen haben sich stark verändert«

Uwe Winkler, SPEA: »»Ein Flying Prober muss nicht nur absolut exakt kontaktieren und extrem schnell sein, sondern er muss darüber hinaus die Möglichkeit bieten, neue Anforderungen wie etwa den effizienten LED-Test abzudecken.«
Uwe Winkler, SPEA: »Wir blicken optimistisch in die Zukunft und gehen davon aus, dass sich die positiven wirtschaftlichen Entwicklungen auch in 2011 fortsetzen werden – allerdings sehr wahrscheinlich auf einem etwas niedrigeren Niveau.«

Die IC- und Baugruppentester-Hersteller haben eine schwere Zeit hinter sich. Doch im Zuge der Erholung der Industrie allgemein und der Halbleiterbranche im speziellen mehren sich auch wieder die Erfolgsmeldungen aus dem ATE-Bereich. Wie es der im hessischen Fernwald ansässigen SPEA ergangen ist, und wo das »Geheimnis des Erfolges« liegt, erklärt Uwe Winkler, Vertriebsleiter von SPEA.

»2010 – das Jahr nach der weltweiten Krise – war für uns ein sehr gutes Jahr. Schon im Frühjahr zeichnete sich eine positive Entwicklung ab, die sich über den Sommer bestätigte.« So beschreibt Winkler die aktuelle Lage des IC- und Baugruppentester-Herstellers SPEA. Allerdings haben sich seiner Auffassung nach die Teststrategien und -anforderungen gerade in den letzten Jahren stark verändert: vom reinen Tester-Verkauf hin zu Komplettlösungen und Service aus einer Hand.

»Der elektrische Test ist unumgänglich, wenn es um die Qualitätssicherung elektronischer Baugruppen geht«, erklärt Winkler. »Entscheidend sind dabei die Funktionen, die ein System bietet. Der Kunde muss sicher sein, dass er mit seinem Gerät sämtliche Testanforderungen abdecken kann, dass er flexibel und zukunftssicher ausgestattet ist und dass seine ganz speziellen Bedürfnisse berücksichtigt sind.« Genau darin sieht Winkler die Kernkompetenz von SPEA – nicht nur Testsysteme zu liefern, die vielfältige Anwendungen abdecken, sondern auch den dazugehörigen Service und Support zu bieten. Basis dafür sei eine breite Produktpalette bestehend aus klassischen Board- und Flying-Probe-Testern, Test- und Handling-Systemen für den Semiconductor-Bereich sowie einer Software für die grafische Reparaturunterstützung, das Qualitätsdatenmanagement und die Prozessoptimierung.

Als wichtigste Erfolgsfaktoren, um in diesem hart umkämpften Markt bestehen zu können, sieht Winkler eine konsequente Kundenorientierung und permanente marktkonforme Strategieausrichtung: »Das Feedback der Anwender muss in die Weiter- und Neuentwicklung von Produkten einfließen. Nur so ist sichergestellt, dass zeitgemäße Lösungen entstehen – und zwar sowohl für die aktuellen als auch für die zukünftigen Anforderungen. Grundlage für ein solch konzeptionelles Vorgehen ist, dass zum einen eine große Basis an Anwendern existiert und zum anderen, dass die User bereit sind, ihre Erfahrungen, Ideen und Anregungen an den Systemlieferanten weiterzugeben. Das setzt eine partnerschaftliche, auf Langfristigkeit ausgelegte Zusammenarbeit voraus.«

Dass SPEA sich dies auf die Fahne geschrieben hat, zeigt sich unter anderem an den Flying-Probe-Testern. Vor über zehn Jahren brachte das Unternehmen das Testsystem SPEA 4040 heraus. Veränderte Märkte, Teststrategien und -anforderungen haben zur Entwicklung einer Systemfamilie geführt, die flexibel auf die jeweilige Anforderung zugeschnitten ist. Heute umfasst die Serie unter anderem das kompakte Einsteigermodell SPEA 4020 für den Offline-Betrieb mit manueller Beladung, den SPEA 4030 für den Einsatz in automatisierten Fertigungsumgebungen mit Loader und Unloader oder mit In-Line-Betrieb, und nicht zuletzt sorgt der ausbaufähige High-end Flying Prober SPEA 4060 für eine sehr hohe Genauigkeit und Geschwindigkeit in nahezu allen Anwendungen. »Wir sind bestens gewappnet für die aktuellen und zukünftigen Anforderungen des Testens«, resümiert Winkler. »Wir blicken optimistisch in die Zukunft und gehen davon aus, dass sich die positiven wirtschaftlichen Entwicklungen auch in 2011 fortsetzen werden – allerdings sehr wahrscheinlich auf einem etwas niedrigeren Niveau.«