JTAG Technologies Dicht bestückte Baugruppen testen

»JTAG Live« ermöglicht u.a. das Messen von Signalpegeln bei Prototypen-Leiterplatten, die Verifizierung von Verbindungen zwischen Pins oder Pingruppen und das Prüfen einfacher Funktionalitäten.
»JTAG Live« ermöglicht u.a. das Messen von Signalpegeln bei Prototypen-Leiterplatten, die Verifizierung von Verbindungen zwischen Pins oder Pingruppen und das Prüfen einfacher Funktionalitäten.

JTAG Technologies hat seine Software »JTAG Live« weiterentwickelt und präsentiert auf der embedded world nun die aktuelle Version. Sie unterstützt Entwickler sehr dicht bestückter Baugruppen, wenn herkömmliches Kontaktieren nicht mehr möglich ist.

So ermöglicht sie u.a. das Messen von Signalpegeln bei Prototypen-Leiterplatten, die Verifizierung von Verbindungen zwischen Pins oder Pingruppen und das Prüfen einfacher Funktionalitäten. Über das Einlesen der BSDL-Files können Anwender schnell auf eine Baugruppe zugreifen und grundlegende Tests zur Inbetriebnahme von Prototypen und Kleinserien durchführen.

Die JTAG-Live-Familie besteht aus den Versionen Buzz, Clip und Script. Mit Hilfe von Buzz können Entwickler direkte und indirekte Verbindungen zwischen Bauteilen prüfen, die Boundary Scan unterstützen. Die Version Clip dient dazu, Logik-Cluster mittels Testvektoren zu verifizieren. Script schließlich ermöglicht einen funktionalen, Bauteil-orientierten Testansatz, bei dem der Anwender über JTAG/Boundary-Scan-kompatible Bauteile die Steuerung der Hardware übernehmen kann. Darüber hinaus zeigt das Unternehmen den JTAG-Live-USB-Controller. Er wird direkt an den PC angeschlossen und beinhaltet einen Testzugangs-Port mit der Standard-Pinbelegung von JTAG Technologies. Der Controller bietet eine maximale programmierbare TCK-Geschwindigkeit von 6 MHz sowie programmierbare Ausgangspannungen und Eingangsgrenzwerte.

Halle 10, Stand 515