Hochfrequenz-Messtechnik 2. RF- und Wireless-Technologietag von NI und Noffz

National Instruments und sein Platinum-Alliance-Partner Noffz Technologies veranstalten am 22. Juni 2016 in Tönisvorst bei Düsseldorf einen Technologietag zum Thema RF- und Wireless-Test.

Das industrielle Internet der Dinge (IIoT) entwickelt sich rasant: Laut einer Prognose des Marktforschungsunternehmens Gartner werden in diesem Jahr pro Tag 5,5 Millionen neue Geräte vernetzt. 

Auch RF-Testsysteme müssen mit diesen Fortschritten mithalten. Während im Verbraucherbereich der Test von mobilen Endgeräten wie Smartphones, Tablets und Smartwatches die Herausforderung darstellt, sind es in der Automobilindustrie beispielsweise eCall-, NAD-, Car2Car- oder Telematik-Module. 

Um diese zunehmend intelligenteren Geräte zeit- und kosteneffizient zu testen, bieten NI und Noffz Technologies vielseitige skalierbare Lösungen und tiefes Experten-Know-how. 

Auf dem Technologietag geben die beiden Partner nun einen Einblick in die neuesten Trends im gesamten Produktentstehungsprozess für RF-Tests. 

Verschiedene Workshops bieten Gelegenheit, PXI-basierte RF-Messtechnik anhand praxisorientierter Übungen kennenzulernen.
 
 Themenschwerpunkte:

•        Mobile Device Test
•        Communication System Design
•        RF Validation & Manufacturing Test
•        Multi DUT RF Test for Cellular and Connectivity Applications
•        Non-Signaling Chip Testing
•        NearField Communication (NFC) & Wireless Power Charging (WPC)

Weitere Informationen zur Anmeldung sowie die ausführliche Agenda stehen auf der Detailseite von National Instruments Deutschland bereit.