Neue Machine-Vision-Technik auf KI-Basis Optisch inspizieren ohne vorhandene Schlecht-Muster

Die Bildverarbeitungssysteme der Serie FH von Omron sind jetzt mit einer neuartigen Fehlererkennungs-KI ausgestattet.
Die Bildverarbeitungssysteme der Serie FH von Omron sind jetzt mit einer neuartigen Fehlererkennungs-KI ausgestattet.

Für die Software seiner Bildverarbeitungssysteme der Serie FH hat Omron KI-Tools vorgestellt, die dem Unternehmen zufolge erstmals optische Inspektionen ohne vorhandene Schlecht-Muster ermöglichen.

Die neu entwickelten KI-Tools gestatten zuverlässige automatische Inspektionen auch für komplizierte und schwer zu charakterisierende Fehlermerkmale. Aufwändige und anstrengende manuelle Sichtprüfungen lassen sich somit ersetzen oder vereinfachen.

»Die künstliche Intelligenz hat mittlerweile eine Stufe erreicht, auf der sie Objektmerkmale so gut wie Menschen erkennen und automatisch Kriterien lernen kann«, erläutert Jan Nieswandt, Product Marketing Manager für Vision bei Omron Europe. »Während viele KI-Lösungen auf umfangreiche Bilddaten, spezialisierte Hardware und technisches Know-how angewiesen sind, macht Omron seine Bildverarbeitungstechnik auf KI-Basis jetzt einer breiten Anwendergruppe zugänglich.«

Weil die neuen KI-Tools Teil der Bildverarbeitungs-Software der FH-Systeme sind, ist keine spezielle Hardware erforderlich. Die KI-Tools erweitern die Inspektionsmöglichkeiten, ohne riesige Datenmengen für das „Teachen“ zur Verfügung zu haben. Während bisherige KI-Lösungen hohe Anforderungen an die Hardware stellen, hat Omron seine neue Lösung nahtlos in die bestehende Architektur der FH-Systeme integriert.

»Mit den aktuellen Vision-KI-Tools lässt sich oft eine Prüfqualität erreichen, die bisher nur durch manuelle und visuelle Prüfungen möglich war«, sagt Jan Nieswandt. »Die KI-Tools bieten eine leistungsstarke Ergänzung, wenn traditionelle optische Mess- und Prüflösungen an ihre Grenzen stoßen.«