eVe-Konferenz der EMVA Alles zur eingebetteten Bildverarbeitungstechnik

Das ICS International Congress Center Stuttgart ist an das neue Messegelände am Flughafen angeschlossen.
Das ICS International Congress Center Stuttgart ist an das neue Messegelände am Flughafen angeschlossen.

Vom 24. bis 25. Oktober wird das ICS International Congress Center Stuttgart wieder zum Treffpunkt der Machine-Vision-Szene. Auf der Embedded-Vision-Europe-Konferenz (eVe) der EMVA in Kooperation mit der Messe Stuttgart geht es um alle Aspekte der eingebetteten Bildverarbeitungstechnik.

Am Anfang der Konferenz steht die Keynote-Rede von David Austin, Sr Principal Engineer bei Intel und zuständig für Lösungen auf KI-Basis für den IIoT-Markt, zum Thema „Flexible and Practical AI for Industrial Deployment“. Darin wird er konkrete Vorschläge für praktische Umsetzungsmöglichkeiten geben, um Leistungskennzahlen wie Genauigkeit, Latenzzeit und Kosten beim industriellen Einsatz von KI zu optimieren.

Der Vortrag von Jagan Ayyaswami von Micron Technology beschäftigt sich mit Prozessor-Architekturen für Machine Learning. Zum selben Themenkomplex gehört die anschließende Präsentation von Ratislav Struharik von IDS mit dem Titel „Universal CNN Accelerator intended for edge-base AI inference“. Neil Trevett, Vice President Developer Ecosystems bei Nvidia und President des Khronos-Konsortiums, hält eine Rede zum Thema „APIs for Accelerating Vision and Inferencing: an Industry Overview of Options and Trade-offs“. Weitere Redner am ersten Konferenztag sind Andrea Dunbar, Head of Embedded Vision Systems beim CSEM, die über „Autonomous data-logger with ULP imager“ spricht, sowie Michael Engel, Gründer und President von Vision Components, der „MIPI Cameras: New Standard for Embedded Vision“ beschreibt.

In seinem Vortrag „Embedded Learning and the Evolution of Machine Vision“ blickt Jonathan Hou, Chief Technology Officer bei Pleora, auf die rasante Entwicklung der Bildverarbeitungstechnik in den letzten Jahren zurück. „Using Sparse Modeling in Visual Inspection to Solve Issues Deep Learning Can't“ ist das Vortragsthema von Takashi Someda, Chief Technology Officer bei Hacarus. Über die bestehenden Deep-Learning-Modelle hinaus schaut Dr. Vassilis Tsagaris, CEO von Irida Labs, in seiner Präsentation „A holistic embedded vision approach: looking beyond the deep learning models“. Pierre Gutierrez, Lead Machine Learning Researcher bei Scortex, redet über „The challenges of deploying Deep Learning for visual quality inspection“.

Gion-Pitschen Gross, Product Manager bei Allied Vision, adressiert die praktischen Umsetzungsfragen in seiner Präsentation „How to set up an embedded system for industrial embedded vision - Requirements, components, and solutions“. Die Schlusspräsentation am zweiten Konferenztag hält Bram Senave, Business Development Manager bei Easics, zum anwenderorientierten Thema „Embedded deep learning in PCB inspection“.

Eingerahmt wird die eVe-Konferenz von einer Table-Top-Ausstellung. Für die Konferenzpausen lassen sich B2B-Meetings individuell buchen. Weitere Informationen und das Anmeldungs-Tool finden sich unter www.embedded-vision-emva.org.