Testabdeckungsanalyse nochmals verbessert

Hitex stellt mit V2.5 eine neue Version von Tessy vor, dem Softwaretool zum automatisierten Modul-/Unit-Test von Embedded-Software.

Zu den Neuerungen zählt u.a. eine erweiterte Testabdeckungsanalyse, wie sie insbesondere für sicherheitsrelevante Applikationen nach SIL3 gefordert wird. Hierfür wurde die Coverage-Messung um Modified-Condition/Decision-Coverage (MC/DC) als auch um Multiple-Condition-Coverage (MCC) ergänzt.

Beide Erweiterungen lassen sich mit der bereits vorhandenen "Branch/Decision"-Coverage kombinieren. Damit erfüllt Tessy auch Testanforderungen, wie sie für die Einhaltung internationaler Standards z.B. nach DO-178B Level A in der Raum- und Luftfahrttechnik nachzuweisen sind.

Eine wesentliche Ergänzung enthält Tessy V2.5 auch bezüglich der Stub-Funktionen. Sie erlaubt nun die Spezifizierung von Advanced Stubs auch für lokale Funktionen innerhalb der Quelldateien des Testobjekts. Dadurch gestaltet sich das Testen komplexer Testobjekte, die viele lokale Funktionen aufrufen, flexibler. Bisher konnten nur normale Stubfunktionen verwendet werden. Wenn verschiedene Testobjekte dieselbe Stubfunktion aufrufen, lässt sich nun individuell festlegen, ob normale Stubs oder Advanced Stubs verwendet werden sollen.

Mit Tessy V2.5 hat man darüber hinaus den Mikrocontroller-Support deutlich ausgebaut. Unterstützt werden nun neue Mikrocontroller wie DSP568E und PPC5xxx von Freescale und CCR32, NC30 sowie SH von Renesas.

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