Halbleitertestsystem für die Fertigung PCIe 4.0 SSD-Speicher testen

Halbleitertestsystem MPT3000 für die Fertigungslinie für PCIe-4.0 SSD-Speicher.
Halbleitertestsystem MPT3000 für die Fertigungslinie für PCIe-4.0 SSD-Speicher.

Halbleiterhersteller können jetzt auch SSD-Speicher im industriellen Maßstab testen, die mit dem neuen PCIe-4.0-Standard arbeiten. Advantest bietet dafür eine modulare Erweiterung seiner Testplattform MPT3000 an.

Ende 2017 wurden die Spezifikationen für die vierte PCIe-Generation veröffentlicht. Nun bekommen Speicherhersteller ein passendes industrielles Testsystem. Durch die modulare Erweiterung lassen sich alle Applikationen abdecken, die für Entwicklung, Massenproduktion und Build-In-Self-Tests (BIST) benötigt werden, so Advantests Bereichsleiter System-Level-Test Colin Ritchie. Man adressiere damit außerdem die Variantenvielfalt an SSD-Protokollen und Formfaktoren.

Die MPT3000-Testplattform wurde ursprünglich für Fertigungslinien konzipiert, in denen SSDs mit PCIe-3.0, SATA- und SAS hergestellt werden. Über die Erweiterung können in erster Linie Bestandssysteme mit wenig Investitionsrisiko auf den neuesten Standard gebracht werden.