Leistungshalbleiter testen Doppelpuls-Test in unter einer Minute

Ein Software-Plugin für den Arbiträrgenerator AFG31000 vereinfacht Doppelpulstests für Halbleiterbausteine und Leistungselektronik.
Ein Software-Plugin für den Arbiträrgenerator AFG31000 vereinfacht Doppelpulstests für Halbleiterbausteine und Leistungselektronik.

Doppelpuls-Tests an SiC- und GaN-Leistungsbauteilen lassen sich in unter 60 Sekunden durchführen. Dafür stellt Tektronix ein kostenloses Software-Plugin bereit.

Das Plugin läuft auf dem Arbiträr-Funktionsgenerator AFG31000, den Tektronix im letzten Jahr auf den Markt gebracht hat. Mit ihm vereinfacht sich das Erzeugen der Pulse. Anstatt dafür einen externen Rechner mit zusätzlicher Software zu verwenden, in der sich der Anwender zurecht finden muss, werden sie mit dem Plugin direkt auf dem Funktionsgenerator in einem einzigen Fenster erstellt. Damit reduziert sich der Messaufbau und ein Doppelpuls-Test lässt sich laut Tektronix so in weniger als einer Minute durchführen.

Für Entwickler in der Leistungselektronik dürfte sich die Arbeit spürbar vereinfachen. Doppelpuls-Tests gehören zu den Standardverfahren, um die Schalteigenschaften von Leistungsbauteilen wie IGBTs oder MOSFETs zu bestimmen. Dazu gehören auch die Wide-Bandgap-Halbleiter Siliziumkarbid und Galliumnitrid.

Für die Messung ist die Pulsbreite von 20 ns bis 150 µs einstellbar. Durchführen lassen sich Impedanzmessungen über die Pulsbreite und den Zeitabstand zwischen den einzelnen Pulsen bei bis zu 30 Pulsen. Das Software-Plugin ist kostenlos über die Webseite von Tektronix herunterladbar.