Debugging Trace direkt aus der Entwicklungsumgebung

IAR Systems hat seine In-Circuit-Debugging-Probe JTAGjet-Trace in die Entwicklungsumgebung IAR Embedded Workbench für ARM integriert.

IAR Systems hat seine In-Circuit-Debugging-Probe JTAGjet-Trace nun vollständig in die Entwicklungsumgebung IAR Embedded Workbench für ARM integriert.

Nutzer der Workbench können direkt auf den Trace-Support für alle ARM-Cores zugreifen und die Trace-Fähigkeiten von ARM-Cortex-M-, R- und A- sowie ARM7/9/11-Geräten beim Debugging voll nutzen. JTAGjet-Trace ist eine In-Circuit-Debugging-Probe mit Trace-Funktionen.

Mit der Unterstützung für Embedded Trace Macrocell (ETM) gibt sie Entwicklern vollen Einblick in das Verhalten ihrer Anwendung. Nutzer können das Verhalten des Programms während der Ausführung auf dem Board beobachten und Funktionen wie Full Instruction Trace und Funktions-Profiling nutzen, um Probleme in der Anwendung zu erkennen.

Die Größe des Trace-Buffers beträgt bis zu 18 MB. Die Auto-Timing-Anpassung eliminiert Probleme bei Daten- und Frequenzabweichungen und ein 56‑Bit-Zeitstempel sorgt für eine CPU-Zyklus-Genauigkeit bis zu 5 ns.