Funktionstest Boundary Scan für alle

In-Circuit- und traditionelle Funktionstestmethoden haben in Zeiten von µBGAs einen schweren Stand. Dennoch sind sie unverzichtbar, und in Kombination mit anderen Testmethoden durchaus zukunftsträchtig.

Spätestens bei BGA- oder µBGA-Bauteilen mit ihren zahlreichen winzigen Beinchen stehen Testsysteme vor enormen Aufgaben. Aufgrund ihrer Technik entziehen sich diese Bauteile jedem mechanischem Zugriff. Erschwerend kommt hinzu, dass die ICs häufig in Gehäusen geliefert werden, auf die auch kein mechanischer Zugriff möglich ist, da sämtliche Anschlüsse unter dem Gehäuse verborgen sind und kein Zugriff auf die Netze möglich ist. Zugleich fordert das Kontaktieren mit der Zunahme eingebetteter Bauteile in Mehrlagenschaltungen die Testgerätehersteller immer stärker heraus.

Dennoch haben die In-Circuit- und Funktionstestmethoden nach wie vor ihre Berechtigung. Nur liegt heute die Lösung in der optimalen Kombination unterschiedlicher Testverfahren. Was also liegt näher als vorhandene Testmöglichkeiten zu erweitern und für komplexere Aufgaben mit Boundary Scan fit zu machen? Denn mit diesem Testverfahren lassen sich kosten- und auch zeitintensive Tests rationalisieren, speziell bei Verbindungs- und Kurzschlusstests.

Das Boundary-Scan-Verfahren nach IEEE 1149.1 bedeutet übersetzt soviel wie das „Abtasten an der Bauteilgrenze“. JTAG - Join Test Action Group bezeichnet den IEEE Standard 1149.1, der ein Verfahren zum Testen und Debuggen von Baugruppen oder Systemen über die sogenannte JTAG-Schnittstelle beschreibt. Dieses elektrische Testverfahren geht vom physikalischen Zugriff auf die Leiterbahnen einer Baugruppe aus, wie zum Beispiel beim In-Circuit-Test, mit all seinen physischen Grenzen hin zum elektrischen und damit grenzenlosen Zugriff. Ziel des Verfahrens ist die Überprüfung von ICs auf sichere Funktion auf kompletten Flachbaugruppen. Deshalb sind JTAG-fähige ICs mit bestimmten Komponenten ausgestattet und untereinander per Testbus verbunden. Erst wenn die Bauteile in den Boundary-Scan-Modus versetzt sind, lassen sich die Ein- und Ausgänge über Boundary Scan kontrollieren.