Göpel electronic JTAG/Boundary Scan – ein Verfahren zur Überwindung von Zugriffsproblemen in der Entwicklung von elektronischen Baugruppen

TAG/Boundary Scan hält in immer größerem Maße Einzug gerade auch in die Entwicklungsabteilungen großer wie kleiner Unternehmen. Die Ursache dafür liegt zum Einen in dem enormen Potenzial, das dieses mittlerweile etablierten Testverfahren bietet, zum Anderen in den Problemen, welche die immer kompakter werdenden Baugruppen und Bauformen bei Testmethoden mit benötigten mechanischem Zugriff mit sich bringen. Moderne BGA-Gehäuse wie auch High-Speed-Übertragungsstrecken verlangen nach neuen Lösungsansätzen. JTAG/Boundary Scan bietet hier eine exzellente wie auch effektive Einsatzmöglichkeit. Doch was ist nun das Außergewöhnliche an diesem Testverfahren, und wie profitiert man als Entwickler davon? Worauf muss man beim Design einer Leiterplatte achten, damit man Boundary Scan nutzen kann?

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