Welche Trends bestimmen zukünftige Memory-Tester? #####

Hersteller von Speicher-ICs geraten zunehmend unter Preisdruck und müssen daher Lösungen finden, ihre Test- und Produktionskosten zu reduzieren. Testequipment, das möglichst viele Bausteine parallel testet und das bei einem Produktwechsel schnell und flexibel umrüstbar ist...

Hersteller von Speicher-ICs geraten zunehmend unter Preisdruck und müssen daher Lösungen finden, ihre Test- und Produktionskosten zu reduzieren. Testequipment, das möglichst viele Bausteine parallel testet und das bei einem Produktwechsel schnell und flexibel umrüstbar ist, kann dabei zum Schlüsselfaktor werden. Wo die Anforderungen an die Messtechniker liegen und welche Faktoren den Speicher-IC-Test in Zukunft wesentlich beeinflussen werden, darüber sprachen wir mit Stuart Ainslie und Peter Lagner von Advantest (Europe).

Speicherbausteine kommen in unterschiedlichsten Anwendungen zum Einsatz: Das Spektrum geht von schnellen Grafik-Speichern, die in Spielekonsolen und High-end-PCs eingesetzt werden, bis hin zu NAND-Flash-Speichern, die Daten, Musik oder Bilder permanent speichern können und die etwa in Solid-State-Disks (SSD) zum Einsatz kommen. Der Test der verschiedenen Speicherbausteine kostet Zeit und Geld. Um den Aufwand so gering wie möglich zu halten, geraten Faktoren wie schneller Paralleltest und kurze Umrüstzeiten zunehmend zum Schlüsselkriterium. Doch welche wesentlichen Trends bestimmen darüber hinaus die Anforderungen an zukünftige Memory-Tester-Lösungen?

Für den Speed-Test hingegen seien Handler nötig, die in der Lage sind, höchsten Durchsatz für kurze Testzeiten zu erzielen, was speziellen Aufwand bei der Auslegung der Indexzeiten und auch eine Optimierung der Soakzeiten bzw. -Kapazitäten erfordere. »Was das mechanische Design des Handlers betrifft, müssen die Anzahl der Pick&Place-Arme, Puffer, Armgeschwindigkeiten und Lade- bzw. Sortiersequenzen optimal aufeinander abgestimmt sein.«