Die Sicherstellung der Qualität dieser Produkte erfordert die Definition von Test- und Programmierabläufen bereits während der Designphase. Einfach zu handhabende Test- und Programmiersysteme bilden dabei die Grundlagen für den elektronischen Baugruppentest, egal ob bei der Prototypenverifikation, in der Massenproduktion oder später im Feld. Nach einer allgemeinen Einführung über das Testen von elektronischen Baugruppen werden die sogenannten eingebetteten Testverfahren näher betrachtet. Wo wird die Reise hingehen? Testen sich elektronische Baugruppen in Zukunft vielleicht selbst? Referent: Jan Heiber, Manager JTAG/Boundary Scan Application von GÖPEL electronic