Testcoverage-Analysetool von Aster Technologies

Mit dem Testcoverage-Analysetool »TestWay Express« von Aster können Anwender die Testabdeckung ihrer Leiterplattendesigns messen und berechnen.

Die Konfiguration erfolgt durch einfache Drag-and-Drop-Auswahl aus der Test-Equipment-Liste. Das System analysiert die Anzahl der bei jeder Teststufe innerhalb der gesamten Kette erkannten Fehler und identifiziert so Lücken in der Testabdeckung mit den zugehörigen unerkannten Fehlern. Ein weiteres Analysetool, das  »QuadView-TPQR«, berechnet die durch ein einzelnes Testsystem erzielte Testabdeckung. Mit Hilfe des Layout- und Schaltplan-Viewers lässt sich die Testabdeckung für ein beliebiges Test- oder Inspektionssystem sowohl auf Bauteil- als auch auf Anschlussebene visualisieren. Auf Basis des Imports des Prüfprogramms oder des Coverage-Reports des Testers analysiert »QuadView-TPQR« die Daten, berechnet die Testabdeckung und stellt die detaillierten Ergebnisse als Bericht bzw. in der Layout- und der Schaltplanansicht dar.