Silicon-Debug-Lösung für komplexe SoCs

Verigy stellt eine integrierte Silicon-Debug-Lösung für sein SoC-Testsystem V93000 vor. Damit lassen sich elektrische Fehler exakt den physikalischen Defekten komplexer SoC-Bausteine zuordnen. Neue Visualisierungs- und Diagnosetools sorgen für detaillierte Einblicke in das Innenleben von Halbleiterbausteinen.

Der IC-Testsystem-Hersteller Verigy adressiert die steigende Nachfrage nach Fehlerdiagnose-Systemen für komplexe SoC-Bausteine (System-on-Chip) mit einer neuen Silicon-Debug-Lösung. Sie vereint das skalierbare SoC-Testsystem V93000 von Verigy mit der interaktiven Test-, Analyse- und Debug-Software »FaultInsyte« von Inovys.

»Komplexe SoCs etablieren sich zunehmend als wichtigstes Bauteil von Geräten der Unterhaltungselektronik, deren Lebensdauer gleichzeitig immer kürzer wird«, erläutert Hans-Jürgen Wagner, Vice President und General Manager von Verigys Semiconductor Test Solutions. »Das erhöht den Druck auf die Hersteller, die Zeit bis zur Marktreife ihrer Produkte drastisch zu verkürzen, und führt zu weniger Zeit für Fehlerdiagnose- und Charakterisierungsaktivitäten.«

Zugleich seien Designs mit Halbleiterstrukturen von 90 nm und kleiner sehr empfindlich gegenüber Schwankungen der Fertigung. »Das wiederum führt zu neuen Defekt-Mechanismen und Fehlermodellen, aber auch Prozess- und Design-Interaktionen verursachen bei derart kleinen Halbleiterstrukturen neue, komplexe Fehler und Defekte.«

Hier setzt die »Inovys«-Silicon-Debug-Lösung an. Mit der Kombination aus Test-, Analyse- und Debug-Software und den integrierten Messmöglichkeiten des V93000 sollen Hersteller nun auch bisher nur schwer zugängliche Fehler bereits frühzeitig während des Tests komplexer SoC-Bausteine aufspüren können. Verigy arbeitet derzeit mit Erstanwendern zusammen. Die Lösung wird ab Anfang November 2008 verfügbar sein. Bereits vorhandene V93000-Pin-Scale-Systeme sollen sich dann problemlos mit der Silicon-Debug-Lösung nachrüsten lassen. (nk) n