Seica: Flying-Probe-Testlösungen

Seica erweitert mit Aerial seine Palette der Flying-Probe-Testsysteme.

Das System basiert auf der Hard- und Software der VIVA-Integrated-Platform und nutzt vier vollkommen unabhängige, mobile Testnadeln auf beiden Seiten der zu prüfenden Baugruppe. Das System ist besonders für den Test von Prototypen, Muster, sowie für kleine und mittlere Serien geeignet, ist sehr flexibel einsetzbar und ermöglicht damit eine schnellere und kostengünstigere Entwicklung von elektronischen Baugruppen.

Durch die vertikale, sehr kompakte Struktur von Aerial M4 ist eine sehr einfache Beladung und Test von selbst großen Karten möglich. Ein innovatives Haltesystem stellt sicher, dass praktisch keine Schwingungen oder Erschütterungen den Test der Baugruppe stören und ermöglicht somit eine maximale Testeffizienz. Als standardmäßigen elektrischen Test nutzt Aerial das OTPN-Verfahren: Multitonsignale werden in die Netze des Testobjekts eingespeist und die Ergebnisse mittels Fast-FourierTransformation) analysiert. Optional lässt sich das System zusätzlich mit einem In-Circuit Test und einem Softwaremodul für die Sichtprüfung ausstatten. Zudem umfasst das System Funktionen zur Datenerfassung und für statistische Auswertungen.