Mixed-Signal-Tests noch ausgefeilter

Ein neues Testsystem eignet sich besonders für Mixed-Signal-Tests, die Bausteinprogrammierung, Funktionsprüfungen, die In-System-Programmierung und die einfache Protokollkommunikation.

Der Testerhersteller Aeroflex bietet das ATE-System der Bauserie 5800 jetzt mit digitalen Funktionstest-Fähigkeiten an. Die neue Bauserie 5800 eignet sich für Mixed-Signal-Tests, die Bausteinprogrammierung, Funktionsprüfungen, die In-System-Programmierung und die einfache Protokollkommunikation. Sie ist als offene Architektur mit weitgehend konfigurierbarer Struktur konzipiert, die einfache Anpassung an neue Entwicklungen in Industriestandards für Leiterplatten ermöglicht.Basis der Systemerweiterung ist eine digitalen Testcontroller-Karte und bis zu 18 digitale Messstellenkarten, so dass man bis zu 1152 ungemultiplexte I/O-Kanäle erhält. Eine flexible skalierbare und modulare Testumgebung mit offener Hardware- und Softwarearchitektur und rekonfigurierbaren Stiftanordnungen ermöglicht in einer einzigen Testumgebung digitale Systemtests, analoge In-Circuit-Prüfungen mit bis zu 3456 Testpunkten, Funktionsprüfungen hoher Integrität und System-Gesamttests. Das digitale Testcontroller-Board des Systems bietet 10-MHz-Taktfrequenz, Trigger-Generierung und -Response, vier Pattern-Generatoren und eine auf 5 ns genaue Flankenplatzierung. Die digitale Messstellenkarte stellt 64 Kanäle sowie 1152 digitale Testkanäle bereit. Erhältlich ist die neue Serie in drei Gehäusetypen – als Standmodell (5850), als Tischgerät (5820) und als Gestelleinbaugerät (5830). Allen Typen gemeinsam sind 21-Slot-Rack, Stromversorgung und Utility-Cards. Die Option für digitale Funktionstests ist auf Bestellung für die 5800 Series verfügbar.