Universelle Halbleitertester-Modellreihen

Zahlreiche Applikationen im Bereich des High-Power-, Automobil- und Mixed-Signal-Halbleitertests decken die Top-Modelle der Reihe C372MX von SPEA ab, die ergänzt werden durch die beiden Modelle C430MX und C460MX der kosgtengünstigen Tester-Familie Comptest 400MX.

Die Systemfamilie C372MX für den Frontend-, Backend- und Charakterisierungstest lässt sich mit maximal jeweils 256 digitalen sowie 256 analogen Pins für Taktfrequenzen bis 100 MHz bestücken und mit einer großen Zahl von Präzisions-Instrumentierungsmodulen ausrüsten.
Die digitalen Pins können Spannungshübe von –5 bis +24 V bei 40 mA mit Datenraten von 20 MHz treiben oder auch von –2 bis +7 V bis 100 MHz. Jeder der max. 256 Pins weist einen eigenen Datenspeicher auf, eine präzise Time Measurement Unit (TMU) sowie eine programmierbare Logikeinheit (PLU), realisiert mit FPGA-Bausteinen, was in dieser Systemklasse ein Alleinstellungsmerkmal darstellt und nicht nur sehr rasche Testzyklen erlaubt sondern auch ein hohes Maß an Flexibilität bietet.
Auf der analogen Seite weist jeder der 256 möglichen Pins in Vollausbau eine eigene 4-Quadranten-PMU (Precision Measurement Unit) für (bipolar) 20 V/ 40 mA, 16 Bit, 5 Bereiche und Relaismatrix 16 x 4 sowie bis zu 64 Hochvolt-PMUs. Zur Verfügung stehen zudem noch  maximal 64 AWGs (Arbiträre Wellenformgeneratoren) und Digitizer mit DSPs und Ausgangssignalen bis maximal 1 MHz (100 V, 512 kbyte Speicher), bis zu 32 Counter mit 20 MHz und 16 Iddq-Monitore, bis zu vier HF-Generatoren und Spektrumanalysatoren bis 3 GHz sowie eine breite Palette von (Hochspannungs-) Stromquellen.
Mit der sogenannten TRIM-Box (Technology Replaceable Integrated Module) ist es möglich, bereits voll ausgebaute Tester oder solche Systeme, die für eine besondere Aufgabe mit ihrem derzeitigen Ausbaustand nicht geeignet wären, für spezielle Aufgaben technologisch zu erweitern.
Softwareseitig arbeitet das System unter der ATOS-C2-Betriebssoftware. Diese umfaßt unter anderem das voll transparente VRAD-Programmentwicklungspaket (Very Rapid Application Development) sowie Software-Werkzeuge wie den Visual Debugger und den Waveform Vector View, einen analogen und digitalen Vektorgrafik-Editor.
In Hard- und Software kompatibel sind diese Tester übrigens mit der „kleineren“ Familie C400MX, die aus den zwei Modellen C430MX und C460MX besteht. Diese neuen IC-Tester zielen speziell auf Anwendungen im Bereich der äußerst anspruchsvollen Hochstrom/Hochvolt-ICs, wie z. B. High-Power-Halbleiter für Fahrzeuge, analoge Bausteine und sehr viele Mixed-Signal-Komponenten.

SPEA GmbH

www.spea-ate.de