Embedded World 2018 Testsysteme für ICs und Baugruppen

Scanflex II Cube mit 8 TAP-Slots zur Erstellung und Ausführung von Boundary-Scan-Tests.
Scanflex II Cube mit 8 TAP-Slots zur Erstellung und Ausführung von Boundary-Scan-Tests.

Göpel Elektronik zeigt auf der Embedded World Testsysteme für Elektronik- und Automotive-Anwendungen. Dazu gehört eine neue Version seiner Steuerung für Boundary-Scan-Tests.

Boundary-Scan-Verfahren wurden entwickelt, um komplexe ICs auch mit minimalem mechanischem Zugriff testen zu können. Dabei generiert eine Steuerung (Boundary-Scan-Controller) Testsignale und spielt sie über im IC integrierte Test-Access-Ports (TAPs) in die Schaltung ein. Der Scanflex II Cube ist die neueste Steuerung vom Hersteller Göpel und wird auch auf der embedded world präsentiert. Sie hat 8 TAP-Slots, die über Einsteckkarten unabhängig voneinander konfiguriert werden können. Die maximale Taktrate für Testsignale beträgt 100 MHz und wird auch beim Parallelbetrieb aller TAP-Kanäle durchgehalten.

Die Steuerung lässt sich in Göpels JTAG-Plattform System Cascon oder als Plug&Play-Gerät in Drittanbeiter-Systeme integrieren. Testprogramme können für Flash-Komponenten wie NAND, NOR, I²C oder eMMC, Mikrocontroller, FGPAs und programmierbare Logikbausteine erstellt werden.

Boundary-Scan-Tests über Automotive-Schnittstellen

Für den Test im Automobil bietet der Hersteller das Modul PXI 6153 an. Es spielt über den Fahrzeugbus einen proprietären Flash-Code in den RAM-Speicher des Steuergeräts und führt dort Testprogramme aus, die der Anwender vorher beispielsweise über LabVIEW oder C++ erstellt hat. Nach beendetem Test muss die Steuerung nur neu gestartet werden.