Schneller Paralleltest von DDR3-SDRAMs

Bis zu 128 DDR3-SDRAM-Bausteine parallel prüft der neue Memory-Tester T5503 von Advantest.

Das System bietet eine maximale Testgeschwindigkeit von 3,2 GBit/s. Damit eignet es sich nicht nur für den Test in der Massenproduktion von DDR3-SDRAMs mit Datenübertragungsgeschwindigkeiten von über 1 GBit/s, sondern auch für GDDR3- und GDDR4-Bauteile.


Aufgrund der höheren Packungsdichte im System reduziert sich zum einen die Grundfläche gegenüber dem vorherigen Modell um etwa 40 Prozent, zum anderen benötigt es etwa 45 Prozent weniger Energie.


Die bereits im Vorgängermodell T5501 vorgestellte proprietäre Multi-Strobe-Funktion wurde im T5503 erweitert. Mittels Multi-Strobe misst das System die Phasendifferenz zwischen dem  Referenztaktsignal (DQS) und der Datenausgabe des Bauteils in jedem Taktzyklus. Somit ist sichergestellt, dass das Bauteil quellensynchron getestet wird. 


Das T5503 wird voraussichtlich ab August 2008 verfügbar sein.